菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀

• 更新時間：2020-09-21
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菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

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 菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口（C形槽）。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品（樣品高度可達140mm）。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法）

電鍍液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

PCB 裝配: 含鉛量測試

設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的準確調(diào)整。所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。

主要特征：
帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。
*高工作條件:50KV,50W
X射線探測器采用比例接收器
準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本濾片：固定或3個自動切換
測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)